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Statistiques

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écaillage

Contenu

1 statistique principale
- 1.1 Sables d'Eon
- 1.2 Coupe d'Eonothem
- 1.3 Diadème de logos
2 Attribut de sous-stat
- 2.1 Fleur de vie
- 2.2 Panache de la mort
- 2.3 Sables d'Eon
- 2.4 Coupe d'Eonothem
- 2.5 Diadème de logos
3 sous-niveau de statistiques
Mise à niveau de 4 emplacements de sous-statistiques
5 temps de mise à niveau des emplacements de sous-statistiques
6
7 Navigation

Stat Général

La statistique principale est toujours HP pour le Fleur de vie et toujours ATK pour le Plume de la mort.

Pour tous les autres artefacts de toute rareté :

Sables d'Eon

Attribut	Chance
HP%	26.68 %
L'INFORMATIQUE%	26.66 %
DEF%	26.66 %
% de recharge d'énergie	10.00 %
Maîtrise élémentaire	10.00 %

Coupe d'Eonothem

Attribut	Chance
HP%	21.25 %
L'INFORMATIQUE%	21.25 %
DEF%	20.00 %
Bonus DMG Pyro%	5.00 %
Bonus Electro DMG%	5.00 %
Cryo DMG Bonus%	5.00 %
Bonus DMG Hydro%	5.00 %
Anemo DMG Bonus%	5.00 %
Bonus DMG Géo%	5.00 %
Bonus de DMG physique%	5.00 %
Maîtrise élémentaire	2.50 %

Circlet de logos

Attribut	Chance
HP%	22.00 %
L'INFORMATIQUE%	22.00 %
DEF%	22.00 %
Taux CRIT%	10.00 %
CRIT DMG%	10.00 %
Bonus de guérison%	10.00 %
Maîtrise élémentaire	4.00 %

Sous-attribut de statistique

Pour tous les artefacts de toute rareté :

Fleur de vie

Attribut	Chance échelonnée
ATK	15.79 %
DEF	15.79 %
HP%	10.53 %
L'INFORMATIQUE%	10.53 %
DEF%	10.53 %
% de recharge d'énergie	10.53 %
Maîtrise élémentaire	10.53 %
Taux CRIT%	7.89 %
CRIT DMG%	7.89 %

Plume de la mort

Attribut	Chance échelonnée
HP	15.79 %
DEF	15.79 %
HP%	10.53 %
L'INFORMATIQUE%	10.53 %
DEF%	10.53 %
% de recharge d'énergie	10.53 %
Maîtrise élémentaire	10.53 %
Taux CRIT%	7.89 %
CRIT DMG%	7.89 %

Sables d'Eon

La distribution change en fonction de la statistique principale :

HP%
L'INFORMATIQUE%
DEF%
% de recharge d'énergie
Maîtrise élémentaire

Attribut	Chance échelonnée
HP	15.00 %
ATK	15.00 %
DEF	15.00 %
L'INFORMATIQUE%	10.00 %
DEF%	10.00 %
% de recharge d'énergie	10.00 %
Maîtrise élémentaire	10.00 %
Taux CRIT%	7.50 %
CRIT DMG%	7.50 %

Attribut	Chance échelonnée
HP	15.00 %
ATK	15.00 %
DEF	15.00 %
HP%	10.00 %
DEF%	10.00 %
% de recharge d'énergie	10.00 %
Maîtrise élémentaire	10.00 %
Taux CRIT%	7.50 %
CRIT DMG%	7.50 %

Attribut	Chance échelonnée
HP	15.00 %
ATK	15.00 %
DEF	15.00 %
HP%	10.00 %
L'INFORMATIQUE%	10.00 %
% de recharge d'énergie	10.00 %
Maîtrise élémentaire	10.00 %
Taux CRIT%	7.50 %
CRIT DMG%	7.50 %

Attribut	Chance échelonnée
HP	15.00 %
ATK	15.00 %
DEF	15.00 %
HP%	10.00 %
L'INFORMATIQUE%	10.00 %
DEF%	10.00 %
Maîtrise élémentaire	10.00 %
Taux CRIT%	7.50 %
CRIT DMG%	7.50 %

Attribut	Chance échelonnée
HP	15.00 %
ATK	15.00 %
DEF	15.00 %
HP%	10.00 %
L'INFORMATIQUE%	10.00 %
DEF%	10.00 %
% de recharge d'énergie	10.00 %
Taux CRIT%	7.50 %
CRIT DMG%	7.50 %

Coupe d'Eonothem

La distribution change en fonction de la statistique principale :

HP%
L'INFORMATIQUE%
DEF%
% de bonus de DMG élémentaire/physique
Maîtrise élémentaire

Attribut	Chance échelonnée
HP	15.00 %
ATK	15.00 %
DEF	15.00 %
L'INFORMATIQUE%	10.00 %
DEF%	10.00 %
% de recharge d'énergie	10.00 %
Maîtrise élémentaire	10.00 %
Taux CRIT%	7.50 %
CRIT DMG%	7.50 %

Attribut	Chance échelonnée
HP	15.00 %
ATK	15.00 %
DEF	15.00 %
HP%	10.00 %
DEF%	10.00 %
% de recharge d'énergie	10.00 %
Maîtrise élémentaire	10.00 %
Taux CRIT%	7.50 %
CRIT DMG%	7.50 %

Attribut	Chance échelonnée
HP	15.00 %
ATK	15.00 %
DEF	15.00 %
HP%	10.00 %
L'INFORMATIQUE%	10.00 %
% de recharge d'énergie	10.00 %
Maîtrise élémentaire	10.00 %
Taux CRIT%	7.50 %
CRIT DMG%	7.50 %

Attribut	Chance échelonnée
HP	13.64 %
ATK	13.64 %
DEF	13.64 %
HP%	9.09 %
L'INFORMATIQUE%	9.09 %
DEF%	9.09 %
% de recharge d'énergie	9.09 %
Maîtrise élémentaire	9.09 %
Taux CRIT%	6.82 %
CRIT DMG%	6.82 %

Attribut	Chance échelonnée
HP	15.00 %
ATK	15.00 %
DEF	15.00 %
HP%	10.00 %
L'INFORMATIQUE%	10.00 %
DEF%	10.00 %
% de recharge d'énergie	10.00 %
Taux CRIT%	7.50 %
CRIT DMG%	7.50 %

Circlet de logos

La distribution change en fonction de la statistique principale :

HP%
L'INFORMATIQUE%
DEF%
Taux CRIT%
CRIT DMG%
Bonus de guérison%
Maîtrise élémentaire

Attribut	Chance échelonnée
HP	15.00 %
ATK	15.00 %
DEF	15.00 %
L'INFORMATIQUE%	10.00 %
DEF%	10.00 %
% de recharge d'énergie	10.00 %
Maîtrise élémentaire	10.00 %
Taux CRIT%	7.50 %
CRIT DMG%	7.50 %

Attribut	Chance échelonnée
HP	15.00 %
ATK	15.00 %
DEF	15.00 %
HP%	10.00 %
DEF%	10.00 %
% de recharge d'énergie	10.00 %
Maîtrise élémentaire	10.00 %
Taux CRIT%	7.50 %
CRIT DMG%	7.50 %

Attribut	Chance échelonnée
HP	15.00 %
ATK	15.00 %
DEF	15.00 %
HP%	10.00 %
L'INFORMATIQUE%	10.00 %
% de recharge d'énergie	10.00 %
Maîtrise élémentaire	10.00 %
Taux CRIT%	7.50 %
CRIT DMG%	7.50 %

Attribut	Chance échelonnée
HP	14.63 %
ATK	14.63 %
DEF	14.63 %
HP%	9.76 %
L'INFORMATIQUE%	9.76 %
DEF%	9.76 %
% de recharge d'énergie	9.76 %
Maîtrise élémentaire	9.76 %
CRIT DMG%	7.32 %

Attribut	Chance échelonnée
HP	14.63 %
ATK	14.63 %
DEF	14.63 %
HP%	9.76 %
L'INFORMATIQUE%	9.76 %
DEF%	9.76 %
% de recharge d'énergie	9.76 %
Maîtrise élémentaire	9.76 %
Taux CRIT%	7.32 %

Attribut	Chance échelonnée
HP	13.64 %
ATK	13.64 %
DEF	13.64 %
HP%	9.09 %
L'INFORMATIQUE%	9.09 %
DEF%	9.09 %
% de recharge d'énergie	9.09 %
Maîtrise élémentaire	9.09 %
Taux CRIT%	6.82 %
CRIT DMG%	6.82 %

Attribut	Chance échelonnée
HP	15.00 %
ATK	15.00 %
DEF	15.00 %
HP%	10.00 %
L'INFORMATIQUE%	10.00 %
DEF%	10.00 %
% de recharge d'énergie	10.00 %
Taux CRIT%	7.50 %
CRIT DMG%	7.50 %

Sous-niveau de statistiques

Niveau
Niveau 1	50 %	33% (1 / 3)	25 %
Niveau 2	50 %	33% (1 / 3)	25 %
Niveau 3	-	33% (1 / 3)	25 %
Niveau 4	-	-	25 %

Mise à niveau de l'emplacement de sous-statistique

Lorsque l'artefact a déjà quatre sous-statistiques :

Fente	Chance
Slot 1	25 %
Slot 2	25 %
Slot 3	25 %
Slot 4	25 %

Temps de mise à niveau des emplacements de sous-statistiques

Lorsque l'artefact a déjà quatre sous-statistiques, la probabilité qu'une sous-statistique sélectionnée puisse être améliorée n fois est :

Fente	Chance
temps 0	23.73 %
temps 1	39.55 %
2 fois	26.37 %
3 fois	8.79 %
4 fois	1.46 %
5 fois	0.10 %

[1] [2] [3]

Les vraies données de test
Principale source de données statistiques
↑ Source de données sous-statistiques

Navigation

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